日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

型號:MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計,是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的最佳即時測量系統(tǒng)

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服務(wù)熱線 0755-86677030

產(chǎn)品描述

分光光譜儀種類

  • MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光

  • MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀

  • MCPD-7700:高感度分光

膜厚測量

半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜

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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

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影印機感光鼓膜厚度量測

半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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LB膜測量

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蒸餾膜測量

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多點膜厚測量

  • 半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

  • 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

  • 塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)

  • 樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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