SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散X射線熒光光譜儀

型號(hào):XEPOS
SPECTRO XEPOS—集大成者偏振型能量色散X射線熒光光譜儀,Na~U全元素分析,高性能電制冷SDD檢測(cè)器,搭配SPECTRO 的 TurboQuant II 專(zhuān)業(yè)應(yīng)用軟件,重新定義ED-XRF分析。

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產(chǎn)品描述

全新偏振型能量色散X射線熒光光譜儀

 — 開(kāi)創(chuàng)XRF分析新紀(jì)元

SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射線熒光技術(shù)(ED-XRF)領(lǐng)域獨(dú)樹(shù)一幟。 具備多元素和多濃度(主量、微量和痕量)的突破性分析能力。信號(hào)和光譜處理的新技術(shù)的運(yùn)用顯著提高了結(jié)果的精確性和準(zhǔn)確度。


1. 采用世界上最新的、最先進(jìn)的偏振X射線熒光激發(fā)技術(shù),區(qū)別于其他X射線熒光儀, 儀器的背景最低,信噪比最佳, 檢出限最低。

 

2. 采用Pd/Co雙靶材技術(shù)搭配不同的激發(fā)光路,在更寬的元素范圍內(nèi)改善了靈敏度和檢測(cè)限。相當(dāng)于一臺(tái)儀器上配備了兩種X光射線管,激發(fā)方式得到優(yōu)化,以達(dá)到理想的分析效果。

3. 優(yōu)異的精度/極快的數(shù)據(jù)讀取具有業(yè)界最高的靈敏度。高精度地同時(shí)分析主,次量元素,卓越的檢出下限使儀器對(duì)那些難以分析的痕量元素也可以輕松應(yīng)對(duì)。 對(duì)需要快速分析的樣品,在稍稍犧牲精度的條件下,可大大縮短分析時(shí)間。

4. XEPOS型儀器配有無(wú)需液氮冷卻的SDD檢測(cè)器, 計(jì)數(shù)率高達(dá)1,000,000pcs。 可有效防止計(jì)數(shù)溢出。 不會(huì)產(chǎn)生Si(Li)計(jì)數(shù)器所發(fā)生的在無(wú)需液氮冷卻的情況下, 所產(chǎn)生的分辨率降低,背景升高,信噪比變差的情況。

5. 涂鍍層分析能力,具備了涂鍍層的厚度(低至1納米)及 成分分析功能,包括貴金屬鍍層分析,最 多8層55元素。

6. 儀器可選擇配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序??蓪?duì)任何完全未知的樣品進(jìn)行‘解刨’分析。與其他X熒光儀器相比,TURBOQUANT  更為接近(符合)實(shí)際,在此程序中采用了數(shù)十種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)樣品,實(shí)測(cè)結(jié)果并予以固化。

 

7. 儀器在Windows操作系統(tǒng)上建立斯派克的分析軟件,操作極為方便。采用人機(jī)功效學(xué)原理,譜圖匯編,自動(dòng)識(shí)別。定性、定量功能強(qiáng)大。儀器采用分級(jí)密碼,重要的數(shù)據(jù)得到保護(hù)。

8. 儀器具有多達(dá)十幾種校正模式(數(shù)學(xué)模型)(方法),在定量分析中可充分應(yīng)用,已取得最佳的分析結(jié)果。方法包括: 基本參數(shù)法、康普頓散射內(nèi)標(biāo)法、盧卡斯法、α經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、質(zhì)量吸收系數(shù)法、平均原子量法等等。

SPECTRO XEPOS令人印象深刻,在從快速篩查分析到精確產(chǎn)品質(zhì)量控制等關(guān)鍵任務(wù)中表現(xiàn)十分出色。將它用于各行各業(yè)的臨線處理,包括
地質(zhì)和采礦環(huán)境和危廢檢測(cè)以及科研和高校。 


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