理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi

型號:ZSX Primus IVi
理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IVi,采用下照式光路結(jié)構(gòu),能夠?qū)σ后w、合金和電鍍金屬等樣品進(jìn)行無損分析。ZSX Primus IVi為分析最復(fù)雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。

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產(chǎn)品描述

理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi


ZSX Primus IVi 具有一個30微米的鈹窗的X光管,這是業(yè)內(nèi)最薄的鈹窗,具有卓越的輕元素檢測限。



提高通量


通過高速數(shù)據(jù)處理和各驅(qū)動部的高效控制提高了通量。 對于水泥樣品 (加壓成型樣品)中16種元素的定量分析, 縮短約18% (與本公司相比), 增加了單位時(shí)間內(nèi)處理的樣品數(shù)量。



D-MCA高速分析


數(shù)字多通道分析儀(D-MCA)系統(tǒng)有助于高速數(shù)字處理,實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,從而提高分析精度和計(jì)算速度。



光學(xué)系統(tǒng)不易受到樣品表面高度變化的影響


不平整的樣品表面會導(dǎo)致樣品和X射線管之間的距離變化。這些差異可能導(dǎo)致X射線強(qiáng)度的變化。Rigaku光學(xué)系統(tǒng)能夠抑制由距離變化引起的X射線強(qiáng)度變化。這使得制備玻璃熔 片的坩堝形狀的差異以及粉末樣品加壓成型時(shí)樣品表面的不平整的影響減少, 從而能夠進(jìn) 行準(zhǔn)確的分析。



精準(zhǔn)的SQX分析


SQX分析是用于精確計(jì)算元素組成的無標(biāo)準(zhǔn)FP分析軟件。現(xiàn)在比以往任何時(shí)候都更易于使用。



自動芯線清洗機(jī)構(gòu)


F-PC探測器芯線逐漸被氣體污染,從而降低分辨率。芯線清潔機(jī)構(gòu)通過電加熱消除芯線污染,無需關(guān)閉電源或打開機(jī)柜,從而恢復(fù)性能。



特征


輔助測量和分析支持:ZSX Guaidance—自動化分析設(shè)置功能增強(qiáng)的第三代SQX分析軟件


ZSX Guaidance軟件—內(nèi)置XRF專業(yè)知識可處理復(fù)雜的設(shè)置??捎玫膽?yīng)用程序包支持交鑰匙操作。


可編程的直觀軟件,用于使用樣品托盤進(jìn)行日常分析—每個托盤的樣本ID設(shè)置(便于輕松復(fù)制和粘貼,以實(shí)現(xiàn)高效的測量設(shè)置)。


提高了液體樣品分析的準(zhǔn)確性—校正由液體樣品杯的幾何形狀引起的幾何形狀效應(yīng)。


高速、高精度測量—采用新驅(qū)動有效的降低了儀器運(yùn)行時(shí)間


獨(dú)特的功能—下照式光路結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了方便的功能,包括新樣品膜校正。


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