日本理學(xué)ZSX Primus IV 波長色散X射線熒光光譜儀

型號(hào):ZSX Primus IV
理學(xué)掃描型波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨(dú)特的上照射設(shè)計(jì),完美契合粉末樣品測試需求,可以快速定量分析從Be(鈹)到U(鈾)的各種類型樣品的成分分析。

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產(chǎn)品描述

理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀—ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV采用上照射設(shè)計(jì),再不用擔(dān)心粉末樣品污染光路,損害光管的風(fēng)險(xiǎn),操作安全放心。 集合所有ZSX系列的優(yōu)點(diǎn):雙真空系統(tǒng),自動(dòng)真空控制,mapping/微區(qū)分析,超輕元素超強(qiáng)靈敏度和自動(dòng)芯線清洗等。 ZSX PrimusIV可靈活分析復(fù)雜樣品。30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。ZSX Primus IV完全具備迎接21世紀(jì)實(shí)驗(yàn)室挑戰(zhàn)。

新的ZSX Guaidance專家系統(tǒng)XRF軟件

ZSX Guaidance專業(yè)操作軟件為XRF測量和數(shù)據(jù)分析的各個(gè)方面提供支持。準(zhǔn)確的分析只能由專家進(jìn)行嗎?不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識(shí)和熟練的專家知識(shí),可以處理復(fù)雜的設(shè)置。操作員只需輸入有關(guān)樣品,分析組分和標(biāo)準(zhǔn)組成的基本信息。具有最小重疊,最佳背景和校正參數(shù)(包括線重疊)的測量線可以借助儀器自動(dòng)設(shè)置。


卓越的輕元素XRF表現(xiàn),具有可靠性的優(yōu)越

ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學(xué)上照式光路結(jié)構(gòu)。使得再也不用擔(dān)心被光路被污染,減少后期維護(hù)。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有卓越的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性,采用30微米鈹窗膜的光管,這是業(yè)界最薄的終端窗口管,可提供出色的輕元素檢測限。

映射和多點(diǎn)XRF分析

結(jié)合最先進(jìn)的成像軟件包相結(jié)合,可檢測均勻性和夾雜物,ZSX Primus IV可以對樣品進(jìn)行簡單詳細(xì)的XRF光譜測量研究,以提供其他分析方法不易獲得的分析見解??捎玫亩帱c(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

SQX基本參數(shù)與EZ-Scan軟件

EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下對未知樣品進(jìn)行XRF元素分析。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供最準(zhǔn)確,最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng),包括譜線重疊。SQX還可以校正光電子,不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品量的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和完美的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。


特征

  • 從Be到U的元素分析


  • ZSX Guidance專家系統(tǒng)軟件


  • 數(shù)字多通道分析儀(D-MCA)


  • EZ分析界面進(jìn)行常規(guī)測量


  • 上照式光學(xué)系統(tǒng),使污染問題最小化


  • 占地面積小,占用的實(shí)驗(yàn)室空間更少


  • 微量分析可分析小至500μm的樣品


  • 30μm管提供卓越的輕元素性能


  • 映射功能的元素地形/分布


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