日本理學(xué)ZSX Primus 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
產(chǎn)品描述
理學(xué)ZSX系列中最新的儀器,ZSX Primus沿襲了及時(shí)提供精確結(jié)果的傳統(tǒng),無(wú)與倫比的可靠性,靈活性和簡(jiǎn)便性適合當(dāng)今實(shí)驗(yàn)室的各種挑戰(zhàn)。隨著理學(xué)的經(jīng)驗(yàn)不斷超越用戶(hù)的期望,ZSX Primus成為所有X射產(chǎn)品的首選。
ZSX Primus可靈活分析復(fù)雜樣品。30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。最先進(jìn)的mapping包可以檢測(cè)同質(zhì)性和夾雜物。ZSX Primus完全具備迎接21世紀(jì)實(shí)驗(yàn)室挑戰(zhàn)。
特點(diǎn):
分析范圍: Be - U
較小的占地面積
微區(qū)分析
下照設(shè)計(jì)
30 μm超薄窗
Mapping: 元素分布
He 密封:樣品室一直在真空環(huán)境中
ZSX Primus
Rigaku ZSX Primus以各種各樣的樣品 - 以最低標(biāo)準(zhǔn)提供從鈹(Be)到鈾(U)的主要和次要原子元素的快速定量測(cè)定。
功能強(qiáng)大,靈活可靠的元素分析
作為Rigaku ZSX系列的最新儀器,ZSX Primus延續(xù)了以及時(shí)和無(wú)縫方式提供準(zhǔn)確結(jié)果的傳統(tǒng),以卓越的可靠性,靈活性和易用性滿(mǎn)足當(dāng)今實(shí)驗(yàn)室的任何挑戰(zhàn)。
具有映射和多點(diǎn)分析的低Z性能
ZSX Primus具有卓越的性能和靈活性,能夠分析最復(fù)雜的樣品,它具有30微米的窗膜,這是業(yè)內(nèi)最薄的終端窗口窗膜,用于檢測(cè)極低的光譜元素。結(jié)合最先進(jìn)的測(cè)試軟件,ZSX Primus可輕松對(duì)樣品進(jìn)行詳細(xì)調(diào)查,以提供其他分析方法不易獲得的分析見(jiàn)解。可用的多點(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。
使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)
EZ掃描允許用戶(hù)在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱(chēng)。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供最準(zhǔn)確,最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng),包括線(xiàn)重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和完美的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
特征
從Be到U的元素分析
占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限
微量分析可分析小至500μm的樣品
下照式光管設(shè)計(jì)針對(duì)液體和松散粉末進(jìn)行了優(yōu)化
30μm窗膜光管提供卓越的輕元素性能
映射功能的元素地形/分布
氦氣密封意味著光學(xué)器件始終處于真空狀態(tài)