《顯微鏡及能譜儀無(wú)損檢測(cè)金屬鍍層厚度》項(xiàng)目通過(guò)驗(yàn)收-華普通用

日前，《掃描電子顯微鏡及能譜儀無(wú)損檢測(cè)微納米尺度金屬鍍層厚度共享配套操作方法與應(yīng)用研究》通過(guò)專家驗(yàn)收。

　　該項(xiàng)目微納米尺度金鍍層和銠鍍層材料為對(duì)象，使用掃描電鏡及能譜儀和蒙特卡洛模擬，創(chuàng)建能譜法測(cè)試結(jié)果與元素特征X射線深度分布曲線之間的關(guān)系。實(shí)現(xiàn)了貴金屬鍍層厚度的無(wú)損檢測(cè)。此項(xiàng)目各項(xiàng)指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平。

　　無(wú)損檢測(cè)

　　是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷大小，位置，性質(zhì)和數(shù)量等信息。與破壞性檢測(cè)相比，無(wú)損檢測(cè)有以下特點(diǎn)。

　　無(wú)損檢測(cè)主要有一、射線檢驗(yàn)、二、超聲檢測(cè)、三、磁粉檢測(cè)、四、液體滲透檢測(cè)。

　　無(wú)損檢測(cè)已不再是僅僅使用X 射線，包括聲、電、磁、電磁波、中子、激光等各種物理現(xiàn)象幾乎都被用做于了無(wú)損檢測(cè)，譬如：超聲檢測(cè)、渦流檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、射線檢測(cè)、滲透檢測(cè)、目視檢測(cè)、紅外檢測(cè)、微波檢測(cè)、泄漏檢測(cè)、聲發(fā)射檢測(cè)、漏磁檢測(cè)、磁記憶檢測(cè)、熱中子照相檢測(cè)、激光散斑成像檢測(cè)、光纖光柵傳感技術(shù)，等等，而且還在不斷地開(kāi)發(fā)和應(yīng)用新的方法和技術(shù)。

　　無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平，無(wú)損檢測(cè)的重要性已得到公認(rèn)。